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膜厚检测仪

2026-02-07 11:02

景颐光电膜厚测量仪FILMTHICK-C10利用光干涉原理,机械结构集成的进口卤钨灯光源,使用寿命超过10000小时。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量,可测量反射率、颜色、膜厚等参数。可应用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等薄膜层的厚度测量。OPTICAFILMTEST 光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法,包含了类型丰富的材料折射率数据库,开放式材料数据库,有效地协助用户进行测试分析,测量期间能实时显示干涉、FFT 波谱和膜厚等趋势。


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